English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 18076/20274 (89%)
造訪人次 : 5273511      線上人數 : 1091
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧:
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
  • 進階搜尋
    請使用永久網址來引用或連結此文件: https://ir.cnu.edu.tw/handle/310902800/2529


    標題: 斷層破裂過程中動態誘發分析
    作者: 王正誠
    貢獻者: 休閒保健管理系
    關鍵字: 庫倫應力
    斷層破裂
    集集地震
    動態誘發
    Coulomb stress
    fault rupturing
    Chi-Chi earthquake
    dynamic triggering
    日期: 2007
    上傳時間: 2008-07-31 16:50:44 (UTC+8)
    出版者: 台南縣:嘉南藥理科技大學休閒保健管理系
    摘要: 本研究利用集集地震的破裂過程,結合庫倫應力的計算方法,來探討斷層破裂過程中動態誘發分析。其中對破裂過程的分析中,當子斷層滑移量大於0.1m 時,則視該子斷層為破裂;由破裂的時序分布得知,破裂過程中,從發震後大約4 秒至25 秒是破裂最劇烈的時期,直到40 秒後則不再發生破裂。對於動態誘發分析可以得知,大部分的子斷層破裂前,庫倫應力增大,導致其他子斷層的誘發破裂,但是還是有一些子斷層在發生破裂前CFS
    值小於0,其發生原因可能為CFS 太小,雖然降低了區域的庫倫應力,但是還是發生破裂。
    未來應計算所有子斷層面上庫倫應力變化的時間序列,並且考慮時空的分布加以分析,有了這項數據才能更清楚來驗證斷層破裂所產生的動態庫倫應力變化,與斷層面的誘發破裂之間的關係。
    This study utilizes the rupture processing of Chi-Chi earthquake, combine the computing of the Coulomb stress, to confer the analysis of dynamic triggering, in the course of fault breaking. In rupture processing, the fault is judged breaking when the slip is more than 0.1m. From the breaking time series, the breaking is in the most violent period from about 4 seconds to 25 seconds, but does not recur after 40 seconds. By the analysis of dynamic triggering, most part of the Coulomb stress on the breaking sub-faults is positive. But the negative of the Coulomb stress on the breaking sub-faults may be too small so still breaking. In the feature, it should calculate all of the change of the Coulomb stresses on sub-faults, and consider the analysis of temporal-spatial distribution, to prove the relationship of dynamic Coulomb stress change and the fault triggering rupture.
    關聯: 計畫編號:NSC96-2116-M-041-003
    顯示於類別:[休閒保健管理系(所)] 科技部計畫

    文件中的檔案:

    檔案 描述 大小格式瀏覽次數
    NSC96-2116-M-041-003.pdf524KbAdobe PDF768檢視/開啟


    在CNU IR中所有的資料項目都受到原著作權保護.

    TAIR相關文章

    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回饋